掃描電子顯微鏡的用途
掃描電子顯微鏡用途:
三維形貌的觀察和分析;在觀察形貌的同時,進行微區(qū)的成分分析。
觀察納米材料。所謂納米材料就是指組成材料的顆粒或微晶尺寸在0.1~100 nm范圍內(nèi),在保持表面潔凈的條件下加壓成型而得到的固體材料。
進行材料斷口的分析。掃描電子顯微鏡的另***個重要特點是景深大,圖象富有立體感。掃描電子顯微鏡的焦深比透射電子顯微鏡大10倍,比光學顯微鏡大幾百倍。
觀察厚試樣。其在觀察厚試樣時,能得到高的分辨率和真實的形貌。掃描電子顯微的分辨率介于光學顯微鏡和透射電子顯微鏡之間。
進行從高倍到低倍的連續(xù)觀察。放大倍數(shù)的可變范圍很寬,且不用經(jīng)常對焦。掃描電子顯微鏡的放大倍數(shù)范圍很寬(從5到20萬倍連續(xù)可調),且***次聚焦好后即可從高倍到低倍,從低倍到高倍連續(xù)觀察,不用重新聚焦,這對進行事故分析方便。
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